标准摘要
[中文适用范围]： IEC 60749 的这一部分提供了半导体集成电路产品 (IC) 可靠性鉴定计划的指南。本文档不适用于军事和太空相关应用。注 1：制造商可以通过基于 EDR-4708@ AEC Q100@ JESD47 或其他相关文件（如果有指定）的指南改编，使用灵活的样本量来降低成本并保持合理的可靠性。注2：本文件中使用的威布尔分布方法是计算给定可靠性项目的适当样本量和测试条件的几种方法之一。 [外文原描述]： IEC 60749-43:2017 gives guidelines for reliability qualification plans of semiconductor integrated circuit products (ICs). This document is not intended for military- and space-related applications.
英文名称Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans