IEC 60759:1983/AMD1:1991 现行

半导体X射线能谱仪的标准试验程序 修改1

标准摘要

[中文适用范围]: 替换第 7.4.1 款(第 55 页)和图 15a(第 94 页)中的一句话。
英文名称Amendment 1 - Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers

替代关系

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