地面光伏（PV）组件.设计鉴定和型式认证.第1-3部分:薄膜非晶硅基光伏（PV）组件试验的特殊要求

[中文适用范围]： 本文件规定了适用于长期在露天气候下运行的陆地光伏组件的设计资格要求。通过资格认证的组件的有效使用寿命将取决于其设计、环境和运行条件。测试结果不能作为组件寿命的定量预测。 在运行温度第98百分位数超过70°C的气候条件下，建议用户考虑按照IEC TS 63126进行更高温度测试条件的测试。对于预期寿命较短的光伏产品，建议用户考虑按照IEC 63163（正在开发中）进行针对消费电子产品光伏的测试。希望确认IEC 61215中测试的特性在制造产品中一致出现的用户，可以考虑使用IEC 62941关于光伏制造质量体系的内容。 本文件适用于所有基于非晶硅（a-Si; a-Si/μc-Si）的陆地平板薄膜组件。因此，它补充了IEC 61215-1:2021和IEC 61215-2:2021的测试要求，针对该技术提出了特殊测试要求。 本文件不适用于聚光太阳能组件，但可用于低聚光组件（1至3个太阳）。对于低聚光组件，所有测试均使用设计聚光水平下的辐照度、电流、电压和功率进行。 本测试序列的目的是确定组件的电气特性，并在合理的成本和时间限制内尽可能展示组件能够承受长期户外暴露。加速测试条件基于重现选定现场故障所需的经验条件，并平等适用于所有类型的组件。加速因素可能因产品设计而异，因此并非所有降解机制都会显现。关于加速测试方法的更多一般信息，包括术语定义，可参考IEC 62506。 由于产生故障所需时间长且大面积施加应力条件成本高，某些长期降解机制只能通过组件测试合理检测。已达到足够成熟度以高置信度设定通过/失败标准的组件测试通过添加到IEC 61215-1的表1中纳入IEC 61215系列。相比之下，本系列IEC 61215-2中描述的测试程序是在组件上进行的。 本文件定义了基于光伏技术对IEC 61215-1:2021和IEC 61215-2:2021测试程序和要求的修改。 [外文原描述]： IEC 61215-1-3:2021 RLV contains both the official IEC International Standard and its Redline version. The Redline version is available in English only and provides you with a quick and easy way to compare all the changes between the official IEC Standard and its previous edition. IEC 61215-1-3:2021 lays down requirements for the design qualification of terrestrial photovoltaic modules suitable for long-term operation in open-air climates. The useful service life of modules so qualified will depend on their design, their environment and the conditions under which they are operated. Test results are not construed as a quantitative prediction of module lifetime. This document is intended to apply to all thin-film amorphous silicon (a-Si; a-Si/µc-Si) based terrestrial flat plate modules. As such, it addresses special requirements for testing of this technology supplementing IEC 61215-1:2021 and IEC 61215-2:2021 requirements for testing. This second edition cancels and replaces the first edition of IEC 61215-1-3, issued in 2016. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition: a. A cyclic (dynamic) mechanical load test (MQT 20) added. b. A test for detection of potential-induced degradation (MQT 21) added. c. A bending test (MQT 22) for flexible modules.