标准摘要
[中文适用范围]: 本文件规定了适用于长期在露天气候条件下运行的地面光伏组件的设计鉴定要求。通过鉴定的组件的有效使用寿命取决于其设计、环境和运行条件。测试结果不被解释为组件寿命的定量预测。 在98%运行温度超过70°C的气候条件下,建议用户考虑按照IEC TS 63126进行更高温度测试条件的测试。对于预期寿命较短的光伏产品,建议用户考虑按照IEC 63163(正在制定中)进行消费电子产品用光伏测试。希望确认IEC 61215中测试特性在制成品中一致表现的用户,可以参考IEC 62941关于光伏制造质量体系的内容。 本文件适用于所有基于Cu(In,Ga)(S,Se)2薄膜的地面平板组件。因此,它补充了IEC 61215-1:2021和IEC 61215-2:2021的测试要求,针对该技术提出了特殊测试要求。 本文件不适用于聚光太阳光使用的组件,但可用于低聚光组件(1至3个太阳光)。对于低聚光组件,所有测试均使用设计聚光水平下的辐照度、电流、电压和功率进行。 本测试序列的目的是确定组件的电气特性,并在合理成本和时间限制内尽可能证明组件能够承受长期户外暴露。加速测试条件基于经验,旨在重现选定的现场观察到的故障,并平等适用于各类组件。加速因子可能因产品设计而异,因此并非所有退化机制都可能显现。关于加速测试方法的更多一般信息,包括术语定义,可参考IEC 62506。 由于产生故障所需时间长且大面积应力条件成本高,某些长期退化机制只能通过组件测试合理检测。已达到足够成熟度以建立高置信度通过/失败标准的组件测试,通过添加到IEC 61215-1的表1中纳入IEC 61215系列。相比之下,本系列和IEC 61215-2中描述的测试程序是在组件上进行的。 本文件根据IEC 61215-1:2021和IEC 61215-2:2021,定义了光伏技术相关的测试程序和要求的修改。 [外文原描述]: IEC 61215-1-4:2021+AMD1:2022 lays down requirements for the design qualification of terrestrial photovoltaic modules suitable for long-term operation in open-air climates. The useful service life of modules so qualified will depend on their design, their environment and the conditions under which they are operated. Test results are not construed as a quantitative prediction of module lifetime. This document is intended to apply to all thin-film Cu(In,Ga)(S,Se)2 based terrestrial flat plate modules. As such it addresses special requirements for testing of this technology supplementing IEC 61215-1:2021 and IEC 61215-2:2021 requirements for testing. This second edition cancels and replaces the first edition of IEC 61215-1-4, issued in 2016. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition: a. A cyclic (dynamic) mechanical load test (MQT 20) added. b. A test for detection of potential-induced degradation (MQT 21) added. c. A bending test (MQT 22) for flexible modules added. This standard is to be read in conjunction with IEC 61215-1:2021 and IEC 61215-2:2021.
英文名称Terrestrial photovoltaic (PV) modules - Design qualification and type approval - Part 1-4: Special requirements for testing of thin-film Cu(In,Ga)(S,Se)2 based photovoltaic (PV) modules