标准摘要
[中文适用范围]： 该标准定义了板级印刷电路组件的 DATPG 和自动测试设备 (ATE) 之间数字测试程序数据交换的信息内容和数据格式。该信息可大致分为定义以下内容的数据： a) UUT 模型； b) 刺激和反应； c) 故障词典； d) 探测。目的 该标准的目的是为 DATPG 生成的测试数据提供标准输出格式。 DATPG 为 ATE 生成测试模式和故障诊断数据。该数据用于诊断数据交换很重要的板级组件等应用。 [外文原描述]： IEC 61445:2012(E) defines the information content and the data formats for the interchange of digital test program data between DATPGs and automatic test equipment (ATE) for board-level printed circuit assemblies. This information can be broadly grouped into data that defines the following: a) UUT Model; b) Stimulus and Response; c) Fault Dictionary; d) Probe.
英文名称Digital Test Interchange Format (DTIF)