标准摘要
[中文适用范围]： IEC 61788 的这一部分描述了通过改进的双谐振模式介电谐振器方法在微波频率下测量 HTS 薄膜的固有表面阻抗 (ZS) [13@14]2。测量的目的是获得谐振频率 f0 下固有 ZS 的温度依赖性。 HTS 薄膜的本征 ZS 的频率和厚度范围以及测量分辨率如下： ?频率：高达 40 GHz； ？膜厚：大于50nm； ？测量分辨率：0@01 m??在 10 GHz 时。应报告测量频率@和缩放至10 GHz@的固有ZS数据，假设固有表面电阻RS（f小于40 GHz）的f2规则和用于比较@的固有表面电抗XS的f规则。 2 方括号内的数字指参考书目。 [外文原描述]： IEC 61788-15:2011 describes measurements of the intrinsic surface impedance (Zs) of HTS films at microwave frequencies by a modified two-resonance mode dielectric resonator method. The object of measurement is to obtain the temperature dependence of the intrinsic Zs at the resonant frequency f0.
英文名称Superconductivity - Part 15: Electronic characteristic measurements - Intrinsic surface impedance of superconductor films at microwave frequencies