IEC 61967-6:2002/AMD1:2008 现行

集成电路.150kHz至1GHz电磁发射的测量.第6部分:传导发射的测量.磁探针法

标准摘要

当前记录暂无摘要。
英文名称Amendment 1 - Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method

替代关系

PDF下载提示

暂时无法下载

登录或查看会员