标准摘要
[中文适用范围]： 该规范定义了一种标准 XML 格式，用于表示基于 IP 质量测量信息模型的电子设计知识产权 (IP) 质量信息。它包括与测量 IP 质量相关的模式和术语，包括在系统上执行的软件。模式和信息模型可以集中于表示IP用户感兴趣的特定类别。在本文件@的上下文中，术语“IP”应用于表示电子设计知识产权。电子设计知识产权是电子设计社区中使用的一个术语，指的是可重复使用的设计规范集合，这些规范代表了行为@属性@和/或设计在各种媒体中的表示。目的 该标准的目的是提供 IP 质量测量的统一视图，以促进该 IP 在电子系统设计中的使用和集成。这将通过提供一种IP之间的定性比较机制来不断改进用于系统设计和验证的IP。定义的标准 IP 质量测量和特征交换格式可以合并到各种电子设计自动化 (EDA) 工具中。 [外文原描述]： IEC 62014-5:2015(E) defines a standard XML format for representing electronic design intellectual property (IP) quality information, based on an information model for IP quality measurement. It includes a schema and the terms that are relevant for measuring IP quality, including the software that executes on the system. The schema and information model can be focused to represent particular categories of interest to IP users.
英文名称Quality of Electronic and Software Intellectual Property Used in System and System on Chip (SoC) Designs