IEC 62047-30:2017 现行

半导体器件 - 微机电器件 - 第30部分:MEMS压电薄膜机电转换特性的测量方法

标准摘要

英文名称Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 30: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of MEMS piezoelectric thin film

替代关系

PDF下载提示

暂时无法下载

登录或查看会员