电工制品中特定物质的测定. 第4部分: 通过CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES和ICP-MS法测定聚合物, 金属和电子中的汞

[中文适用范围]： IEC 62321 的这一部分描述了通过 CV-AAS@ CV-AFS@ ICP-OES 和 ICP-MS 对聚合物@金属和电子产品中的汞进行测试的方法。本标准规定了电工产品中汞（Hg）含量的测定。这些材料是聚合物@金属和电子产品（例如印刷线路板@冷阴极荧光灯@汞开关）。含汞电池应按照 [1]1 中的描述进行处理。实验室间研究仅评估了这些塑料测试方法，未涵盖其他基质。本标准将样品作为待处理和测量的对象。样本是什么或如何获取样本由进行测试的实体定义。有关从成品电子产品中获取代表性样品以测试受管制物质含量的进一步指导，请参见 IEC 62321-2。需要注意的是，样本的选择和/或确定可能会影响测试结果的解释。本标准描述了四种方法@的使用，即CV-AAS（冷蒸气原子吸收光谱法）@ CV-AFS（冷蒸气原子荧光光谱法）@ICP-OES（电感耦合等离子体发射光谱法）@和ICP-MS（电感耦合等离子体质谱法）以及制备样品溶液的几种程序，专家可以从中选择最合适的分析方法。通过 CV-AAS@ CV-AFS@ ICP-OES 和 ICP-MS 进行分析，可以高精度（低百分比范围内的不确定性）和/或高灵敏度（低至 ?? /kg 级）。本标准中描述的测试程序旨在为 4 mg/kg 至 1000 mg/kg 范围内的汞浓度提供最高水平的准确度和精密度。该程序不限于更高浓度。对于直接分析@，使用热分解-金汞齐结合 CV-AAS (TD(G)-AAS) 也可用于无需样品消解的汞分析@，尽管由于样品量减少，检测限高于其他方法。 [外文原描述]： IEC 62321-4:2013 describes the use of four test methods for mercury in polymers, metals and electronics, namely CV-AAS (cold vapour atomic absorption spectrometry), CV-AFS (cold vapour atomic fluorescence spectrometry) ICP-OES (inductively coupled plasma optical emission spectrometry), and ICP-MS (inductively coupled plasma mass spectrometry) as well as several procedures for preparing the sample solution from which the most appropriate method of analysis can be selected by experts. It has the status of a horizontal standard in accordance with IEC Guide 108 .