电工制品中特定物质的测定.第5部分:通过原子吸收分光光度法(AAS)、原子荧光光谱法(AFS)、电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)和电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)测定聚合物和电子中镉、铅和铬及金属中镉和铅

[中文适用范围]： IEC 62321的本部分描述了通过AAS@AFS@ICP-OES和ICP-MS对聚合物@金属和电子产品中的铅@镉和铬进行测试的方法。本标准规定了电工产品中镉（Cd）、铅（Pb）、铬（Cr）含量的测定。它涵盖三种类型的矩阵：聚合物/聚合物工件@金属和合金以及电子产品。本标准将样品作为待处理和测量的对象。样本是什么或如何获取样本由进行测试的实体定义。有关从成品电子产品中获取代表性样品以测试受管制物质含量的进一步指导，请参见 IEC 62321-2。需要注意的是，样本的选择和/或确定可能会影响测试结果的解释。本标准描述了四种方法@的使用，即AAS（原子吸收光谱法）@ AFS（原子荧光光谱法）@ ICP-OES（电感耦合等离子体发射光谱法）@和ICP-MS（电感耦合等离子体质谱法）以及制备样品溶液的几种程序，专家可以从中选择最合适的分析方法。由于聚合物和电子产品中的六价铬分析有时很难确定，本标准介绍了除 AFS 之外的聚合物和电子产品中铬的筛选方法。铬分析提供有关材料中六价铬存在的信息。然而@元素分析不能选择性地检测六价Cr；它确定样品中所有氧化态的 Cr 含量。如果 Cr 含量超过六价 Cr 限值，则应进行六价 Cr 测试。本标准中描述的测试程序旨在为 Pb@Cd 和 Cr 的浓度提供最高水平的准确度和精密度，在 ICPOES 和 AAS@ 的情况下，Pb@Cd 和 Cr@ 的范围为 10 mg/kg。对于 ICP-MS@，Pb 和 Cd 的范围为 0@1 mg/kg；对于 AFS@，范围为 Pb 的 10 mg/kg 和 Cd 的 1.5 mg/kg。该程序不限于更高浓度。由于多氟聚合物的稳定性，本标准不适用于含有多氟聚合物的材料。如果在分析过程中使用硫酸@，则存在失去 Pb@ 的风险，从而导致该分析物的值错误地偏低。另外@硫酸和氢氟酸不适合AFS@测定Cd，因为它会干扰Cd的还原。由于样品的溶解步骤，可能会出现限制和风险，例如可能会出现目标或其他元素的沉淀，在这种情况下，必须单独检查残留物或通过其他方法溶解残留物，然后与测试样品溶液合并。 [外文原描述]： IEC 62321-5:2013 describes the four test methods for lead, cadmium and chromium in polymers, metals and electronics, namely AAS (atomic absorption spectrometry), AFS (atomic fluorescence spectrometry), ICP-OES (inductively coupled plasma optical emission spectrometry), and ICP-MS (inductively coupled plasma mass spectrometry) as well as several procedures for preparing the sample solution from which the most appropriate method of analysis can be selected by experts. It has the status of a horizontal standard in accordance with IEC Guide 108 .