标准摘要
[中文适用范围]: 本部分IEC 62433的目的是描述提取流程,用于根据IEC 61000-4-2和IEC 61000-4-4推导集成电路(IC)对传导静电放电(ESD)和电气快速瞬变(EFT)的免疫宏模型。 该模型解决由于过电压、热损伤和其他故障模式引起的物理损坏。功能故障也可以解决。 该模型允许在应用中模拟IC的免疫性。该模型通常称为“集成电路免疫模型传导脉冲免疫”,ICIM-CPI。 所描述的方法适用于模拟、数字和混合信号IC的建模。 IC的几个端子可以是单个模型的一部分(例如输入、输出和电源引脚)。 模型的实现能够表示过电压保护电路的非线性行为。 该模型可以实现在不同的软件工具中用于时域电路仿真。所描述的建模方法允许在组件和系统级别上模拟由于ESD或EFT引起的设备故障,考虑IC免疫仿真所需的所有组件,如PCB或外部保护元件。 本文件详细演示了在定义的基于XML的格式中构建模型,适用于无需深入了解半导体电路即可交换模型。然而,模型功能可以在不同的格式中实现,包括但不限于表格、SPICE[1] 1网表、硬件描述语言如VHDL-AMS [2]和Verilog-AMS [3]。 本文件提供: •描述ICIM-CPI宏模型元素,代表IC的电气、热或逻辑行为。 •基于XML的通用数据交换格式。 [外文原描述]: IEC 62433-6:2020 describes the extraction flow for deriving an immunity macro-model of an Integrated Circuit (IC) against conducted Electrostatic Discharge (ESD) according to IEC 61000-4-2 and Electrical Fast Transients (EFT) according to IEC 61000-4-4. The model addresses physical damages due to overvoltage, thermal damage and other failure modes. Functional failures can also be addressed. This model allows the immunity simulation of the IC in an application. This model is commonly called "Integrated Circuit Immunity Model Conducted Pulse Immunity", ICIM-CPI. This document provides: - the description of ICIM-CPI macro-model elements representing electrical, thermal or logical behaviour of the IC. - a universal data exchange format based on XML.
英文名称EMC IC modelling - Part 6: Models of integrated circuits for pulse immunity behavioural simulation - Conducted pulse immunity modelling (ICIM-CPI)