数字试验矢量数据用标准试验接口语言(STIL

[中文适用范围]： 该标准定义了一种测试描述语言，该语言： a) 促进大量数字测试矢量数据从 CAE 环境到自动测试设备 (ATE) 环境的传输； b) 指定足以定义数字测试向量在被测设备 (DUT) 中的应用的模式、格式和时序信息； c) 支持结构化测试生成的测试向量数据量，例如扫描/自动测试模式生成 (ATPG)、集成测试技术，例如内置自测试 (BIST) 以及 IC 设计及其组件的功能测试规范，采用针对 ATE 环境中的应用而优化的格式。在设定任何标准的范围时，一些问题被定义为与初始项目无关。以下是从该初始项目范围中删除的部分问题列表： — 电平：数字测试程序的一个关键方面是能够为被测信号建立电压和电流参数（电平）。当前标准中没有明确定义液位处理，因为该信息既紧凑（不呈现运输问题）又通常独立于数字测试数据而建立，需要本标准当前范围之外的不同支持机制。终止值可能会影响级别。 — 诊断/故障跟踪信息：该标准的目标是以最佳方式呈现需要转移到 ATE 上的数据。虽然诊断数据、故障识别数据和宏/设计元素对应数据可以属于这一类（并且通常相当大），但该标准也侧重于集成电路和组件测试，并且大多数调试/故障分析与对这些结构进行 ATE。请注意，故障信息的返回（用于关闭 ATE 分析）也不是当前定义的标准的一部分。 — 数据记录机制、格式化和控制通常不被定义为本当前标准的一部分。 — 参数测试未定义为本标准的组成部分，除了标识参数测试潜在位置的可选模式标签外，例如 IDDQ 测试或交流 (AC) 定时测试。 — 程序流程：测试排序和排序未定义为当前标准的一部分，除非需要定义旨在作为一个单元执行的数字模式集合。 — 分箱结构不是当前标准的一部分。 — 模拟或混合信号测试：虽然这是许多参与者关心的一个领域，但此时模拟测试数据的传输不会导致与数字数据相同的传输问题。 — 算法模式构造（例如常用于内存测试的序列）当前未定义为标准的一部分。 — 并行测试/多站点测试构造不是当前环境的组成部分。 — 用户输入和用户控制/选项不是当前标准的一部分。 — 表征工具（例如 shmoo 图）未定义为当前标准的一部分。 [外文原描述]： Defines a test description language that: Facilitates the transfer of large volumes of digital test vector data from CAE environments to automated test equipment ATE environments; Specifies pattern, format, and timing information sufficient to define the application of digital test vectors to a device under test (DUT); Supports the volume of test vector data generated from structured tests such as scan/automatic test pattern generation (ATPG), integral test techniques such as built-in self test (BIST), and functional test specifications for IC designs and their assemblies, in a format optimized for application in ATE environments.