标准摘要
[中文适用范围]： STIL 中定义的结构支持用作半导体仿真激励，包括 (1) 将信号名称映射到等效设计参考，(2) 扫描和内置自测试 (BIST) 与逻辑仿真之间的接口，(3) 数据类型表示模式中未解决的状态，(4) 在不同的设计块上并行或异步执行模式，以及 (5) 模式构造的基于表达式的条件执行。 STIL 中定义的结构支持设计子块（即嵌入式内核）的测试模式的定义，以便这些测试可以合并到完整的更高级别的设备测试中。 STIL 中定义的结构将来自设备测试环境的故障信息与原始激励和设计数据元素相关联。 [外文原描述]： Provides an interface between digital test generation tools and test equipment. A test description language is defined that:(a) facilitates the transfer of digital test vector data from CAE to ATE environments;(b) specifies patten, format, and timing information sufficant to define the application of digital test vectors to a DUT;and (c) supports the volume of test vector data generated from structured tests.
英文名称Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) for Semiconductor Design Environments