标准摘要
[中文适用范围]： 本部分 IEC 63202 描述了在模拟阳光下测量晶体硅光伏电池光致退化（LID）的程序。晶体硅光伏电池中 LID 的大小是通过比较在指定温度和辐照度下暴露于模拟阳光前后的标准测试条件（STC）下的最大输出功率来确定的。本文件的目的是提供标准化的光伏电池 LID 信息，以帮助光伏组件制造商最大限度地减少同一组件内电池之间的不匹配，从而最大限度地提高功率输出。与 IEC 61215 系列中描述的光伏组件 LID 测量相比，已经发现有几个额外的实验因素对光伏电池 LID 测试有显著影响，这些因素在 IEC 61215-2 中未被考虑。本文件提供了保持一致的光伏电池 LID 测量所需的条件和测量程序以及参数设置。LID 大小是电池质量的一个重要因素。对于来自同一分选批次的电池，最重要的因素是 LID 后的输出功率分布。 [外文原描述]： IEC 63202-1:2019 describes procedures for measuring the light-induced degradation (LID) of crystalline silicon photovoltaic (PV) cells in simulated sunlight. The magnitude of LID in a crystalline silicon PV cell is determined by comparing maximum output power at Standard Test Conditions (STC) before, and after, exposure to simulated sunlight at a specified temperature and irradiance. The purpose of this document is to provide standardized PV cell LID information to help PV module manufacturers in minimizing the mismatch between cells within the same module, thereby maximizing power yield.
英文名称Photovoltaic cells - Part 1: Measurement of light-induced degradation of crystalline silicon photovoltaic cells