标准摘要
[中文适用范围]： 本 PAS 的目的是提供与微电子器件测试相关的指导，以测量其对大气中子引起的单粒子效应 (SEE) 的敏感性。因为可以使用不同类型的器件以多种不同方式进行测试辐射源的辐射源，还展示了如何使用测试数据来估计由于大气层和飞机高度中的大气中子而导致的器件和电路板的 SEE 率。可用的 SEE 数据类型可以从许多不同的角度来看待。如图所示。 SEE 测试可以使用多种辐射源进行，所有这些辐射源都会在 IC 中引起滞后事件效应。此外，许多测试是在单个设备上进行的。但有些测试将整个单板计算机暴露在可能引起SEE效果然而，一个关键的判别因素是决定现有的SEE数据是否可用，或者是否确实没有现有数据，因此必须对感兴趣的设备或板进行SEE测试 [外文原描述]： Provides guidance related to the testing of microelectronic devices for purposes of measuring their susceptibility to single event effects (SEE) induced by the atmospheric neutrons. Also shows how the test data can be used to estimate the SEE rate of devices and boards due to the atmospheric neutrons in the atmosphere at aircraft altitudes.
英文名称Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 2: Guidelines for single event effects testing for avionics systems