航空电子设备的过程管理大气辐射效应第7部分:航空电子设备设计中单事件效应分析过程的管理

[中文适用范围]： IEC 62396@的这一部分是一份技术报告@，描述了解释大气辐射对电子设备影响的过程。大气辐射引起的单粒子效应 (SEE) 是一类可能的故障机制，在电子设备和相关功能的安全性和可靠性分析中需要解决。本文档重点介绍电子元件、电子设备和相关电子功能。本文档未涉及系统级分析。本文件旨在描述电子设备设计@设计审查@中SEE的核算方法，它可以为航空航天认证过程提供帮助。本文件建立了一个示例流程，用于评估大气辐射环境中的电子元件@评估缓解/保护/利用@并解决SEE对电子设备的影响。该流程旨在支持电子设备的 SEE 分析。它没有详细描述用于减轻电子设备设计中 SEE 影响的方法。注 1 IEC 62396-3 提供了此过程的更多详细信息。注 2 IEC 62396-2 提供了 SEE 测试的更多详细信息。该文档@本身@不是程序要求文档@，即它不包含“应”一词。然而，它描述了一个可以在用户自行决定和同意的情况下使用的过程，以帮助准备和维护电子元件管理计划（参见[1]1和[7]）。本文件中描述的过程的输出提供数据作为产品安全性和可靠性分析的输入。尽管是为航空电子工业@开发的，但其他工业部门也可以自行决定使用该文件。 [外文原描述]： IEC TR 62396-7:2017 is a technical report which describes a process to account for the effects of atmospheric radiation on electronic equipment. Single event effects (SEE) due to atmospheric radiation are one class of possible failure mechanisms that are addressed in the safety and reliability analyses of electronic equipment and associated functions. This document focuses on electronic components, electronic equipment and associated electronic functions. System level analysis is not addressed in this document. This document is intended to describe an approach to accounting for SEE in electronic equipment design, design review, and it can provide aid in the aerospace certification process.