标准摘要
[中文适用范围]： 本部分IEC 62878描述了用于测量器件嵌入式基板基本特性的测试元素组器件。本部分IEC 62878适用于使用有机基材制造的器件嵌入式基板，其中包括例如在电子布线板制造过程中形成的有源或无源器件、分立元件以及片状元件。IEC 62878系列既不适用于重布线层（RDL），也不适用于IEC 62421中定义为M型商业模式的电子模块。 [外文原描述]： IEC TS 62878-2-4:2015 describes the test element group devices useful when measuring basic properties of device embedded substrates. It is applicable to device embedded substrates fabricated by use of organic base material, which include for example active or passive devices, discrete components formed in the fabrication process of electronic wiring board, and sheet formed components.
英文名称Device embedded substrate - Part 2-4: Guidelines - Test element groups (TEG)