光伏电池.第4部分:晶体硅光伏电池的光和高温诱导退化的测量

[中文适用范围]： 本文件描述了在模拟阳光条件下测量晶体硅光伏电池光和高温诱导退化（LETID）的程序。该文件涵盖的初始光诱导退化（LID）要求已在IEC 63202-1中涵盖，其中评估了光伏电池在中等温度和20 kWh·m-2终止标准内的初始持续时间下的LID退化风险。光伏组件的能量产出显著受到其所用光伏电池固有的LETID性能影响，该性能包括LID和其他退化机制。本文件中描述的程序旨在评估光伏电池在升温和更长时间光照下的退化行为。通过比较光照过程中标准测试条件（STC）下的电池最大功率Pmax与初始Pmax，确定退化率、最大退化比和可能的再生。提出了相对于累积辐照量的Pmax退化曲线，帮助电池制造商判断电池在组装成组件前是否容易遭受LETID。与将硼氧引起的LID与LETID分开的一些其他标准或仅限于电荷载流子注入诱导退化的标准不同，本文件描述的程序包含了在升温下光照下的整体退化。使用此程序确定的整体退化更相关于现场条件下的各种退化机制，并能更好地评估LETID风险。对于在约20 kWh·m-2内具有强初始退化的电池，可应用IEC 63202-1中测量初始光诱导退化（LID）的程序。与IEC TS 63342中描述的光伏组件LETID检测方法相比，本文件在开路条件下使用较高的注入水平以缩短测试时间，而温度相同。本文件中描述的程序可用于检测光伏电池的LETID风险，并判断LETID缓解措施的有效性，例如用于生产监控的快速测试，从而提高光伏组件的能量产出。 [外文原描述]： IEC TS 63202-4:2022 describes procedures for measuring the light and elevated temperature induced degradation (LETID) of crystalline silicon photovoltaic (PV) cells in simulated sunlight. The requirements for measuring initial light induced degradation (LID) of crystalline silicon PV cells are covered by IEC 63202-1, where LID degradation risk of PV cells under moderate temperature and initial durations within termination criteria of 20 kWh·m-2 are evaluated. The procedures described in this document are to evaluate the degradation behaviour of PV cells under elevated temperature and longer duration of light irradiation. The procedures described in this document can be used to detect the LETID risks of PV cells [2],[3] and to judge the effectiveness of LETID mitigation measures, e.g. quick test for production monitoring, thus helping improve the energy yield of PV modules.