精细陶瓷(高级陶瓷,高级工艺陶瓷).显微结构特征.第2部分:利用显微照片评价法的相体积分数测量

[中文适用范围]： 本部分ISO 13383规定了一种手动测量方法，用于通过抛光蚀刻截面的显微照片、覆盖方形网格线并计算落在每个相上的交点数量，来确定精细陶瓷（高级陶瓷、高级技术陶瓷）中主要相的体积分数。 注1：本方法假定根据立体学原理，真实相体积分数等同于随机切割截面上的面积分数。 注2：高级技术陶瓷抛光和蚀刻的指南可在ISO 13383-1:2012的附录A和B中找到。 本方法适用于具有一个或多个明显第二相的陶瓷，例如Al2O3/ZrO2、Si/SiC或Al2O3/SiCw。 如果测试材料包含离散孔隙，则在本方法中将其视为第二相，前提是没有证据表明抛光过程中的晶粒拔出与真实孔隙混淆。 注3：如果材料包含约20%以上的孔隙率，则在抛光过程中微结构受损的风险很高，孔隙体积分数的测量可能变得误导。体积分数低于0.05的第二相或孔隙率在结果中可能产生显著误差和潜在分散。通常需要比最少三张更多的显微照片来提高结果的一致性和准确性。 注4：许多陶瓷含有少量第二玻璃相。为了合理估计玻璃相含量，晶粒间的玻璃材料应易于观察，因此宽度应至少为0.5 µm。本部分ISO 13383中的方法被认为不适用于晶粒周围的窄玻璃膜。 注5：微结构很少是均匀的，相含量可能因显微照片而异。必须检查制备截面的足够广泛区域，以确保选择用于评估的区域具有代表性，并且不包含引人注目的不规则性。本方法假定制备截面的选定区域在统计上代表整个采样截面。 本部分ISO 13383的一些用户可能希望将自动或半自动图像分析应用于显微照片或直接捕获的微结构图像。这目前不在本部分的范围内，但附录A中给出了一些指南。 [外文原描述]： ISO 13383-2:2012 specifies a manual method of making measurements for the determination of the volume fraction of major phases in fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) using micrographs of polished and etched sections, overlaying a square grid of lines, and counting the number of intersections lying over each phase. The method applies to ceramics with one or more distinct secondary phases, such as found in Al 2 O 3 /ZrO 2 , Si/SiC, or Al 2 O 3 /SiC w . If the test material contains discrete pores, these are to be treated as a secondary phase for the purpose of this method, provided that there is no evidence of grain pluck-out during polishing being confused with genuine pores.