标准摘要
[中文适用范围]： 本文件定义了使用聚焦离子束（FIB）进行透射电子显微镜（TEM）样品制备时最常用的术语。 [外文原描述]： This document defines the most commonly used terms for transmission electron microscopy (TEM) specimen preparation using focused ion beam (FIB).
英文名称Microbeam analysis — Focused ion beam application for TEM specimen preparation — Vocabulary