标准摘要
[中文适用范围]： 本国际标准规定了分析氧化铝中痕量任何或所有以下元素的波长色散 X 射线荧光光谱法：钠、硅、铁、钙、钛、磷、钒、锌、锰、镓、钾、铜、铬和镍。 这些元素以氧化物表示：Na 2 O、SiO 2 、Fe 2 O 3 、CaO、TiO 2 、P 2 O 5 、V2 O 5 、ZnO、MnO、Ga 2 O 3 、K 2 O、CuO、Cr2 O 3，以及基于未干燥样品的NiO。 本方法适用于冶炼级氧化铝。 表 1 给出了每种成分的浓度范围。 表 1 — 适用浓度范围 浓度范围 % 成分 Na 2 O 0,10 至 1 ,00 SiO 20,003 至 0,05 Fe 2 O 30,003 至 0,05 CaO 0,003 至 0,10 TiO 20,0005 至 0,010 P2 O50,0005 V2 O ～ 0,050 50,0005 ～ 0,010 ZnO 0,0005 ～ 0,010 MnO 0,0005 ～ 0,010 Ga 2 O 30,0005 ～ 0,020 K2O 0,0005 ～ 0,010 CuO 0,0005 ～ 0,010 Cr2 O 30,0005至 0.010 氧化镍 0 ,0005 至 0,010 [外文原描述]： ISO 23201:2015 sets out a wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometric method for the analysis of aluminium oxide for trace amounts of any or all of the following elements: sodium, silicon, iron, calcium, titanium, phosphorus, vanadium, zinc, manganese, gallium, potassium, copper, chromium and nickel. These elements are expressed as the oxides Na 2 O, SiO 2 , Fe2O 3 , CaO, TiO 2 , P 2 O 5 , V 2 O 5 , ZnO, MnO, Ga 2 O 3 , K2O, CuO, Cr 2 O 3 , and NiO on an un-dried sample basis. The method is applicable to smelting-grade aluminium oxide. The concentration range covered for each of the components is also given.
英文名称Aluminium oxide primarily used for production of aluminium — Determination of trace elements — Wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometric method