识别卡 测试方法 第3部分：带触点的集成电路卡及相关器件

[中文适用范围]： ISO/IEC 10373 的这一部分根据 ISO/IEC 7816 中给出的定义定义了具有触点的集成电路卡和相关接口设备的特性测试方法。 每种测试方法都交叉引用一个或多个基本标准，它可以是 ISO/IEC 7810 或定义身份证应用中采用的信息存储技术的一项或多项补充标准。 注 1：可接受性标准不构成本国际标准的一部分，但可在上述国际标准中找到。 ISO/IEC 10373 的这一部分涉及特定于带触点的集成电路技术的测试方法 ISO/IEC 10373-1 涉及一种或多种卡技术通用的测试方法，其他部分涉及其他特定技术的测试。 ISO/IEC 10373 本部分中描述的测试方法旨在单独且独立地执行。 给定的卡不需要按顺序通过所有测试。 ISO/IEC 10373 本部分中描述的测试方法基于 ISO/IEC 7816 中定义或将要定义的规范。 使用 ISO/IEC 10373 本部分中定义的测试方法确定的 ICC 和 IFD 的一致性并不排除失败。 在该领域。 可靠性测试不属于 ISO/IEC 10373 本部分的范围。