标准摘要
[中文适用范围]： 该方法可用于所有具有刚性安装到头部和头部三轴加速度计的上颈三轴称重传感器的测试设备的 HIC@ 计算。目的 本 SAE 信息报告的目的是描述一种适用于计算机的技术，用于确定头部接合和脱离时间，以便在不依赖接触开关或摄影的情况下计算 HIC。 [外文原描述]： This methodology can be used for all calculations of HIC, with all test devices having an upper neck triaxial load cell mounted rigidly to the head, and head triaxial accelerometers.Cross Reference: 49CFR 572,49CFRPart572,Su,ISO12351,J211/1_201403
英文名称Test Device Head Contact Duration Analysis