多 多邻图 返回列表
SJ/T 10705-1996 现行

半导体器件键合丝表面质量检验方法

标准摘要

行业标准《半导体器件键合丝表面质量检验方法》，主管部门为电子工业部。

替代关系

相关标准

PDF下载提示

暂时无法下载

登录或查看会员