T/CNS 81—2022 现行

电荷耦合器件质子位移损伤效应模拟试验方法

标准摘要

【适用范围】 本文件适用于宇航用CCD位移损伤效应辐照试验。 【主要技术内容】 本文件描述了采用质子对电荷耦合器件(CCD)进行位移损伤效应辐照试验的一般要求、试验方法和程序。
英文名称Simulation test method of proton induced displacement damage effects in charge-coupled device

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