宇航用静态随机存储器总剂量辐射效应试验方法

【适用范围】 本文件适用于评估宇航用SRAM的抗总剂量效应能力，抗辐射加固SRAM试验验证，SRAM总剂量效应研究。 【主要技术内容】 本文件规定了宇航用静态随机存储器（Static Random-Access Memory,SRAM）总剂量(total ionizing dose,TID)效应试验方法。