T/GVS 006—2022 现行

半导体射频电源和微波电源的输出偏差稳定性测量方法

标准摘要

【适用范围】 本文件规定了半导体射频电源和微波电源的输出偏差稳定性测量方法的术语和定义、符号和缩略语、总则、测试条件、测试要求。 本文件适用于电气工作频率在100 kHz~3 GHz的半导体装备用射频电源和微波电源产品。 【主要技术内容】 规定了半导体射频电源和微波电源的输出偏差稳定性测量方法的术语和定义、符号和缩略语、总则、测试条件、测试要求。适用于电气工作频率在100 kHz~3 GHz的半导体装备用射频电源和微波电源产品。
英文名称Method of measuring output deviation stability for semiconductor RF power supply and microwave power supply

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