有机发光二极管显示器 表面云纹 (Mura)缺陷量化方法

【适用范围】 本文件规定了有机发光二极管显示器表面云纹（Mura）缺陷量化的分级标准及实验条件、方法。 本文件主要适用于有机发光二极管显示器。 本文件主要技术内容包括基于人眼空间响应的Mura缺陷量化的主观实验测试方法，同时提出Mura缺陷各因素的计算方法和量化模型，包括多因素非线性拟合模型和基于MLP的神经网络模型。 【主要技术内容】 本文件主要技术内容包括基于人眼空间响应的Mura缺陷量化的主观实验测试方法，该方法采用双刺激度对照实验方法，以减少主观因素对实验结果的影响。 同时提出Mura缺陷各因素的计算方法和量化模型，包括多因素非线性拟合模型和基于MLP的神经网络模型。通过对双刺激度对照实验获得的数据进行筛选处理，并进行多因素非线性拟合和基于多层感知机的神经网络训练拟合，得到多因素量化公式和神经网络量化模型，考虑因素包括Mura缺陷对比度、尺寸、类型。