标准摘要 【适用范围】 本文件适用于工作波段为8 μm~14 μm的长波红外光学成像系统的生产、制造与检验。 【主要技术内容】 本文件规定了长波红外光学成像系统(以下简称“系统”)的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输及贮存和随行技术文件。 展开完整摘要 英文名称Technical specification for long-wave infrared optical imaging system