YS/T 839-2012 现行

硅衬底上绝缘体薄膜厚度及折射率的椭圆偏振测试方法

标准摘要

行业标准《硅衬底上绝缘体薄膜厚度及折射率的椭圆偏振测试方法》由全国有色金属标准化中心归口上报,主管部门为工业和信息化部。

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