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CCS L 40标准查询结果，查看标准号、标准名称、发布日期、ICS/CCS 分类和标准状态，以及标准PDF下载、PDF电子版和免费标准下载相关信息。
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DB32/T 4894-2024
微机电系统半导体气体传感器性能检测方法
现行
DB13/T 6033-2024
半导体器件低浓度氢效应试验方法
现行
DB13/T 5696-2023
基于高温反偏试验的GaN HEMT 射频功率器件缺陷快速筛选方法
废止
DB13/T 5695-2023
GaN HEMT 射频器件陷阱效应测试方法
废止
SJ/T 11874-2022
电动汽车用半导体分立器件应力试验程序
现行
DB61/T 1448-2021
大功率半导体分立器件间歇寿命试验规程
废止
DB52/T 1104-2016
半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法
废止
DB52/T 844-2013
半导体电流调整管
废止