半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理

国家标准《半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理》 由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。