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GB/T 47753-2026

微机电系统(MEMS)技术 车规级MEMS半导体气体传感器技术规范

即将实施
GB/T 47749-2026

微机电系统(MEMS)技术 微机电固态材料线性热膨胀系数测试方法

即将实施
GB/T 47768-2026

微机电系统(MEMS)技术 玻璃浆料键合强度的微型V形试验(MCT)测量方法

即将实施
GB/T 47725-2026

微机电系统(MEMS)技术 硅通孔三维结构可靠性评价要求

即将实施
GB/T 47239.9-2026

半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第9部分:一晶体管一电阻式(1T1R)电阻存储单元性能测试方法

即将实施
GB/T 47239.8-2026

半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第8部分:柔性电阻存储器延展性、柔韧性和稳定性测试方法

即将实施
GB/T 15879.612-2025

半导体器件的机械标准化 第6-12部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 密节距焊盘阵列封装(FLGA)的设计指南

现行
GB/T 42706.3-2025

电子元器件 半导体器件长期贮存 第3部分:数据

现行
GB/T 42706.4-2025

电子元器件 半导体器件长期贮存 第4部分:贮存

现行
GB/T 42706.6-2025

电子元器件 半导体器件长期贮存 第6部分:封装或涂覆元器件

现行
GB/T 46280.1-2025

芯粒互联接口规范 第1部分:总则

现行
GB/T 46280.4-2025

芯粒互联接口规范 第4部分:基于2D封装的物理层技术要求

现行
GB/T 46280.2-2025

芯粒互联接口规范 第2部分:协议层技术要求

现行
GB/T 46280.3-2025

芯粒互联接口规范 第3部分:数据链路层技术要求

现行
GB/T 46280.5-2025

芯粒互联接口规范 第5部分:基于2.5D封装的物理层技术要求

现行
GB/T 44775-2024

集成电路三维封装 芯片叠层工艺过程和评价要求

现行
GB/T 44791-2024

集成电路三维封装 带凸点圆片减薄工艺过程和评价要求

现行
GB/T 44796-2024

集成电路三维封装 带凸点圆片划片工艺过程和评价要求

现行
GB/T 43931-2024

宇航用微波集成电路芯片通用规范

现行
GB/T 43939-2024

宇航用石英挠性加速度计伺服电路通用测试方法

现行