GB/T 14146-2009 废止

硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法

标准摘要

国家标准《硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。
英文名称Silicon epitaxial layers-determination of carrier concentration-mercury probe voltages-capacitance method

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