标准摘要 国家标准《硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 展开完整摘要 英文名称Silicon epitaxial layers-determination of carrier concentration-mercury probe voltages-capacitance method