GB/T 14862-1993 现行

半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法

标准摘要

国家标准《半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法》 由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
英文名称Junction-to-case thermal resistance test methods of packages for semiconductor integrated circuits

替代关系

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