用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法

国家标准《用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法》 由339-1（工业和信息化部（电子））归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。