标准摘要
国家标准《硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。
英文名称Test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconduetivity decay