GB/T 1553-2009 废止

硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法

标准摘要

国家标准《硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。
英文名称Test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconduetivity decay

替代关系

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