标准摘要 国家标准《掩模缺陷检查系统灵敏度分析所用的特制缺陷掩模和评估测量方法准则》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 展开完整摘要 英文名称Guideline for programmed defect masks and benchmark procedures for sensitivity analysisof mask defect inspection systems