GB/T 24582-2009 废止

酸浸取 电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质

标准摘要

国家标准《酸浸取 电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。
英文名称Test method for measuring surface metal contamination of polycrystalline silicon by acid extraction-inductively coupled plasma mass spectrometry

替代关系

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