GB/T 32281-2015 现行

太阳能级硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的测定 二次离子质谱法

标准摘要

国家标准《太阳能级硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的测定 二次离子质谱法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。
英文名称Test method for measuring oxygen, carbon, boron and phosphorus in solar silicon wafers and feedstock by secondary ion mass spectrometry

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