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GB/T 47081-2026
氮化硅粉体中铁、铝、钙含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法
即将实施
GB/T 47080-2026
金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法
即将实施
GB/T 47082-2026
碳化硅单晶抛光片堆垛层错测试方法
即将实施
GB/T 47089-2026
蓝宝石图形化衬底表面图形几何参数的测定方法
即将实施
GB/T 11073-2025
硅片径向电阻率变化测量方法
现行
GB/T 29056-2025
硅外延用三氯氢硅中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
现行
GB/T 4326-2025
非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
现行
GB/T 14140-2025
半导体晶片直径测试方法
现行
YS/T 1740-2025
电子级三氯氢硅的化学气相沉积评价方法
现行
YS/T 1747-2025
硅材料中氢含量的测定 惰性气体熔融热导法
现行
YS/T 1754-2025
颗粒硅表面粉尘的测定 浊度法
现行
YS/T 1755-2025
颗粒硅总金属杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
现行
YS/T 1768-2025
硅多晶生产用石墨制品表面杂质含量的测定 电感耦合等离子体光谱法
现行
YS/T 526-2025
镍硼硅系自熔合金粉
现行
YS/T 1703-2024
晶片包装片盒表面颗粒的测试 液体颗粒计数法
现行
YS/T 983-2024
硅多晶还原炉尾气成分的测定 气相色谱法
现行
YS/T 981.1-2024
高纯铟化学分析方法 第1部分:痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
现行
GB/T 1558-2023
硅中代位碳含量的红外吸收测试方法
现行
YS/T 1654-2023
氮化镓化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
现行
GB/T 35306-2023
硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
现行