GB/T 33922-2017 现行

MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法

标准摘要

国家标准《MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法》 由TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。
英文名称Wafer level test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive die performances

替代关系

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