标准摘要 国家标准《MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法》 由TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。 展开完整摘要 英文名称Wafer level test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive die performances