GB/T 34893-2017 现行

微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法

标准摘要

国家标准《微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构面内长度测量方法》 由TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。
英文名称Micro-electromechanical system technology—Measuring method for in-plane length measurements of MEMS microstructures using an optical interferometer

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