标准摘要
国家标准《微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法》 由TC336(全国微机电技术标准化技术委员会)归口 ,主管部门为国家标准委。
英文名称Micro-electromechanical system technology—Measuring method for residual strain measurements of MEMS microstructures using an optical interferometer