标准摘要
国家标准《半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 （DDR3 SDRAM）测试方法》 由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口 ，主管部门为工业和信息化部（电子）。
英文名称Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for double data rate 3 synchronous dynamic random access memory(DDR3 SDRAM)