GB/T 36613-2018 现行

发光二极管芯片点测方法

标准摘要

国家标准《发光二极管芯片点测方法》 由339-1(工业和信息化部(电子))归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
英文名称Probe test method for light emitting diode chips

替代关系

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