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GB/T 4023.4-2026
半导体分立器件 第4部分:微波二极管和晶体管
即将实施
GB/T 36613-2018
发光二极管芯片点测方法
现行
GB/T 36362-2018
LED应用产品可靠性试验的点估计和区间估计(指数分布)
现行
GB/T 36361-2018
LED加速寿命试验方法
现行
DB35/T 1611-2016
COB 封装白光发光二极管技术规范
废止
SJ/T 11578-2016
LED模块电光转换效率要求
现行
DB35/T 1370-2013
发光二极管芯片点测方法
废止
SJ/T 11455-2013
示波管和指示管的测试方法
现行
SJ/T 11393-2009
半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范
现行
SJ/T 11394-2009
半导体发光二极管测试方法
现行
SJ/T 11398-2009
功率半导体发光二极管芯片技术规范
现行
SJ/T 11399-2009
半导体发光二极管芯片测试方法
现行
SJ/T 11401-2009
半导体发光二极管产品系列型谱
现行
SJ/T 11400-2009
半导体光电子器件 小功率半导体发光二极管空白详细规范
现行
GB/T 15529-1995
半导体发光数码管空白详细规范
现行