GB/T 42709.3-2026 即将实施

半导体器件 微电子机械器件 第3部分:拉伸试验用薄膜标准试验片

标准摘要

国家标准《半导体器件 微电子机械器件 第3部分:拉伸试验用薄膜标准试验片》 由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。
英文名称Semiconductor devices—Micro-electromechanical devices—Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing

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