GB/T 6624-2009 现行

硅抛光片表面质量目测检验方法

标准摘要

国家标准《硅抛光片表面质量目测检验方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。
英文名称Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection

替代关系

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