标准摘要 国家标准《硅抛光片表面质量目测检验方法》 由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准委。 展开完整摘要 英文名称Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection